LDJD系列介電常數(shù)測試儀產(chǎn)品：LDJD系列是利用高頻Q表法在較高的頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值、電感的電感量和分布電容值、電工絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗、高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻以及傳輸線的特性阻抗等。

設(shè)備配置：

LDJD介電常數(shù)測試儀的適用范圍：

GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》（等效IEC 60250：1969）；

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法》；

ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》；

適用于測量液體、易熔材料以及固體材料。測試結(jié)果與某些物理?xiàng)l件有關(guān)，例如頻率、溫度、濕度，在特殊情況下也與電場強(qiáng)度有關(guān)；

什么是介電常數(shù)？

介電常數(shù)εr電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時(shí)，其電容Cx與同樣電極構(gòu)形的真空電容C0之比:

（1）式中：

εr——相對電容率；

Cx——充有絕緣材料時(shí)電容器的電極電容；

C0——真空中電容器的電極電容。

在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下，不含二氧化碳的干燥空氣的相對電容率εr等于1.00053。因此，用這種電極構(gòu)形在空氣中的電容Ca來代替C0測量相對電容率εr時(shí)，也有足夠的精確度。

在一個(gè)測量系統(tǒng)中，絕緣材料的電容率是在該系統(tǒng)中絕緣材料的相對電容率εr與真空電氣常數(shù)ε0的乘積。

在SI制中，絕對電容率用法/米(F/m )表示。而且,在SI單位中，電氣常數(shù)ε0為：

（2）用皮法和厘米來計(jì)算電容，真空電氣常數(shù)為:

（3）什么是介質(zhì)損耗。

介質(zhì)損耗角 δ由絕緣材料作為介質(zhì)的電容器上所施加的電壓與由此而產(chǎn)生的電流之間的相位差的余角。

介質(zhì)損耗因數(shù)  tanδ：損耗角δ的正切。