LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀——航天偉創(chuàng)

該介電常數(shù)儀測(cè)試系統(tǒng)由測(cè)試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和自動(dòng)測(cè)量控件以及電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。

系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的&佳解決方案。

工作特性

1.     平板電容器：

       極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

       極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10^－4 （1MHz）

4．測(cè)微桿分辨率：0.001mm

工作原理

本測(cè)試裝置主要由一個(gè)數(shù)顯的微測(cè)量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成，平板電容器用于夾持被測(cè)材料樣品。而數(shù)顯的微測(cè)量裝置，用于顯示被測(cè)材料樣品的厚度。陪測(cè)設(shè)備介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為調(diào)諧指示儀器，通過(guò)被測(cè)材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)材料樣品時(shí)的Q值變化，可測(cè)得絕緣材料的損耗角正切值。同時(shí)，由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。

北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司生產(chǎn)經(jīng)營(yíng)多種型號(hào)介電常數(shù)儀，具體如下：

LDJD-C型

LDJD-B型

LDJD-A型

LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀——航天偉創(chuàng)